P系列 提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。
通常，XRF 的选择取决于我们的 P 系列——或者 L 系列。 性能和特点是一样的； 房间大小是他们不同的地方。 这 短片 可以帮助您决定哪种方法最适合您的测试要求。
标准配置包括一个 4 位置多准直器组件和一个用于在凹入区域进行测量的可变焦相机。 准直器和焦距可以根据应用进行定制。 包括一个 SDD 探测器，以及我们的长寿命微焦点 X 射线管。
P 系列专为测试大型 PCB 或平板而设计。 它提供 3 个样品台选项，具体取决于您的样品大小。 看看这个区别 短片.
产品规格
| 元素测量范围： | 13号铝元素到92号铀元素 |
| X射线管： | 50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管 |
| 探测器： | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 |
分析层数
及元素数： | 5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 |
| 滤波器/准直器： | 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器 |
| 焦距： | 可变焦 |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 计算机： | 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 |
| 相机： | 1/4''（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 视频放大倍率： | 30X 微型和 7X 数字变焦：标准； 55X 微型：可选 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 重量： | 50kg |
| 马达控制/可编程XY平台 | 桌子尺寸：381mm（15“）x 340mm（13”）| 行程：152毫米（6英寸）x 127毫米（5英寸） |
| 延伸可编程XY平台： | 桌子尺寸：635mm（25“）x 635mm（25”）| 行程：254毫米（10英寸）x 254（10英寸）
现在可用 扩展 舞台选择 |
| 样品仓尺寸： | 高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"） |
| 外形尺寸： | 高度：450毫米（18英寸），宽度：450毫米（18英寸），深度：600毫米（24英寸） |
